失效分析_颖特新科技

最热知识

2018-02电容器常见失效分析

所谓失效，就是在正常的工作时间内无法正常工作。电容器的主要参数有容量，即C值；损耗值即DF值；耐电压，即TV值；绝缘电阻即IR值；还有漏电流值。一颗完美的电容器，以上参数均符合规格要求。颖特新电子生产的安规电容器按照IEC 60384国际标准执行。通常，很多客户在使用安规电容器时，都[详细]

2018-02陶瓷电容器失效分析

对于陶瓷电容器失效，原因分析有几下几种一：潮湿对电参数恶化的影响空气中湿度过高时，水膜凝聚在电容器外壳表面，可使电容器的表面绝缘电阻下降。此外，对于半密封结构电容器来说，水分还可渗透到电容器介质内部，使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。因此，高温、高湿环境对电容器参数[详细]

2018-02瓷片电容失效分析

瓷片电容分高压瓷片电容及低压瓷片电容。在应用，为何会有失效？从几点进行分析一：瓷片电容在电场作用下的击穿破坏遵循弱点击穿理论，而局部放电是产生弱点破坏的根源。除因温度冷热变化产生热应力导致开裂外，对于环氧包封型高压陶瓷电容，无论是留边型还是满银型电容都存在着电极边缘电[详细]

2018-01MLCC的质量控制与失效分析

前言无源元件(passive component) 在电子产品中占有十分重要的地位。虽然很多无源元件在整个电子产品中所占的物料价值并不高，但任何一个微不足道的元器件的失效都可能导致整个系统的失效。一般电子产品中有源元器件(IC)和无源元件的比例约为1：10-20。从该数据可[详细]

2017-12高压瓷片电容发生“爆炸”的原因分析

瓷片电容是具有小的正电容温度系数的电容器，作用于高稳定振荡回路中，作为回路电容器及垫整电容器。低频瓷介电容器限于在工作频率较低的回路中作旁路或隔直流用，或对稳定性和损耗要求不高的场合，这种电容器不宜使用在脉冲电路中，因为它们易于被脉冲电压击穿。高压瓷片电容瓷片电容主要针对于高频、高压，瓷[详细]

2017-09MLCC漏电失效分析

1. 案例背景客户端在老化实验测试阶段发现MLCC出现漏电失效，其不良比率不详，该MLCC焊接工艺为回流焊接工艺。 2. 分析方法简述通过外观检查OK样品与NG样品表面未见明显异常。通过X射线透视检查，OK样品和NG样品内部均未发现裂纹孔洞等异常。[详细]

2017-09陶瓷电容（MLCC）落下后破裂失效分析

这是前一阵子公司产品执行落下测试后发现陶瓷电容（MLCC）有破断裂及掉落的问题，经过初步的分析后发现电路板的焊垫以及电容零件上的镀层都还残留在电路板上，而且电容本身开裂的位置发生在端点以外的地方。依此现象研判，应该是遭受到外力而使得电容发生破裂的典型问题，个人认为这种破裂的现像很像电路板弯曲[详细]

2017-09MLCC电容失效分析及对策

产品再设计上总是无法保障完美，而对于电容产品来说，这样的产品生产要求很高。但是也无法避免会出现一些问题，今天就来为大家分享一下MLCC电容。那么MLCC电容失效分析及对策有哪些呢？不妨一起来探究一下吧。 MLCC失效的原因解析造成MLCC失效的原因有很多种。1.在装配过程中由于工艺应用上出现问题从而导致失效[详细]

2017-09电容器的常见失效模式和失效机理

电容器的常见失效模式有――击穿短路；致命失效――开路；致命失效――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等；部分功能失效――漏液；部分功能失效――引线腐蚀或断裂；致命失效――绝缘子破裂；致命失效――绝缘子表面飞弧；部分功能失效引起电容器失效的原因是多种多样[详细]

2017-09多层陶瓷电容器mlcc失效原因深度分析

多层陶瓷电容器本身的内在可靠性十分优良，可以长时间稳定使用。但如果器件本身存在缺陷或在组装过程中引入缺陷，则会对其可靠性产生严重影响。内在因素主要有以下几种：1.陶瓷介质内空洞 (Voids)导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染，烧结过程控制不当等。空洞的产生极易导致漏电，而漏电又导[详细]

共 11 条记录 1/2 页上一页 1 2 下一页尾页